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PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)是原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等），從而對材料或者器件等樣品實(shí)現(xiàn)多重激勵(lì)下的原位表征。
更新時(shí)間：2025-04-21
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