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澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。

澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。

澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06產(chǎn)品特點，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或者額外的電纜）。

澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統(tǒng)，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研究領域，以及IC設計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領域。

澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統(tǒng)超低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統(tǒng)，使用氣體導熱隔震，實現(xiàn)樣品臺納米級的機械穩(wěn)定性。為有效降低環(huán)境震動影響，產(chǎn)品設計安裝在光學隔震平臺上。

澤攸手動探針臺系統(tǒng)，可定制手動探針臺系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。